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Auftragsanalysen – Mikroskopie und Topografie

Wir verfügen über eine Vielzahl an Messmethoden zur Analyse von Defekten, Probenstrukturen und Oberflächen bis in den Nanometerbereich hinein. Diese umfassen u.a. Elektronenmikroskopie (REM, TEM) kombiniert mit EDX (Bestimmung der chemischen Zusammensetzung) und EELS (zur stöchiometrischen und elektronischen Charakterisierung anorganischer und organischer Strukturen).

Für einfachere Fragestellungen steht eine Vielzahl an optischen Digitalmikroskopen (mit 3D-Optionen) zur Verfügung.

Die Darstellung der Oberflächenbeschaffenheit (Topographie) und die Bestimmung der Oberflächenrauigkeiten können zwei- oder dreidimensional mit Hilfe von Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Profilometrie (DEKTAK, Nanomechanischer Oberflächentaster UNAT) erfolgen. Des Weiteren können Defektanalysen und Bauteiluntersuchungen mittels Röntgencomputer-tomographie (Röntgen-CT) durchgeführt werden.

Darüber hinaus bietet wir Ihnen:

Dr. Timo Körner

Anwenderzentrum Material- und Umweltforschung Augsburg (AMU)
Universitätsstr. 1a
86159 Augsburg
Tel 0821 80 90 30 45

Anwendungs- und Technologiebereiche:

Material

Angebotstyp:

Beratung
Kleinere Auftragsarbeiten
Nutzung Gerätschaften, Labore, Prüfstände